Микроскоп инвертированный Carl Zeiss Axio Observer для материаловедения

Описание Carl Zeiss Axio Observer

Микроскоп Axio Observer максимально удобен для изучения крупных и тяжелых деталей в металлографии. В соответствии с поставленными задачами, выбирайте из трех вариантов штативов Axio Observer (от ручного до полностью моторизованного), проводите ваши исследования легко переключаясь между всеми современными методами контрастирования: от светлого поля до метода ДИК и флуоресценции.

Axio Observer – это исследовательская платформа для автоматического сканирования и анализа, позволяющая решать самые сложные задачи, такие как анализ неметаллических включений в стали.

Теперь вам доступны не только все современные методы исследования (светлое, темное поле, поляризационный контраст, ДИК и флуоресценция), но также и уникальный, разработанный Zeiss метод C-DIC (ДИК с круговой поляризацией), позволяющий получить дополнительную информацию об объекте.

В зависимости от ваших задач, вы можете выбирать между различными предметными столиками: механическим, вращающимся, скользящим, сканирующим и моторизованным.

Штативы D1m и Z1m оснащены устройством идентификации объективов и светоделительных элементов, менеджером освещения, системой дополнительной смены увеличений «Оптовар», а штатив Z1m дополнительно оснащен менеджером контраста и сенсорным TFT-дисплеем или выносной станцией для управления микроскопом и дает возможность дооснащения конфокальным лазерным сканирующим микроскопом LSM 700.

Моторизованный штатив Axio Observer автоматически фокусируется и воспроизводит необходимые настройки микроскопа, настраивая освещение при смене объектива, что увеличивает производительность и исключает возможность ошибки, а TFT-дисплей позволяет удобно задавать и отслеживать необходимые параметры и управлять прибором.

Использование LCD-дисплея (D1m) или TFT-дисплея (Z1m) позволяет сразу видеть, какой объектив в настоящий момент является рабочим, какой метод контрастирования установлен и дает информацию о мощности освещенности, что является огромным преимуществом при работе с инвертированным микроскопом, в отличие от прямого микроскопа, где текущий рабочий объектив всегда хорошо виден.

Исследование материалов и деталей, контроль этапов обработки, определение поверхностных свойств деталей, глубин микронеровностей, толщины слоев, определение типов структур, исследование зон термического влияния сварных соединений, проверка глубины закалки — эти и многие другие задачи легко решаемы при помощи микроскопов серии Axio Observer.

Характеристики Carl Zeiss Axio Observer